Методология создания инновационных проектов в области микроэлектроники
Введение
Электроника прошла несколько этапов развития, за время которых сменилось несколько поколений элементной базы: дискретная электроника электровакуумных приборов, дискретная электроника полупроводниковых приборов, интегральная электроника микросхем (микроэлектроника), интегральная электроника функциональных микроэлектронных устройств (функциональная микроэлектроника).
Элементная база электроники развивается непрерывно возрастающими темпами. Каждое из приведенных поколений, появившись в определенный момент времени, продолжает совершенствоваться в наиболее оправданных направлениях. Развитие изделий электроники от поколения к поколению идет в направлении их функционального усложнения, повышения надежности и срока службы, уменьшения габаритных размеров, массы, стоимости и потребляемой энергии, упрощения технологии и улучшения параметров электронной аппаратуры.
Современный этап развития электроники характеризуется широким применением интегральных микросхем (ИМС). Это связано
Содержание
Введение
1.1 История развития микроэлектроники
1.2 Современные проблемы и направления развития микроэлектроники
1.3 Классификация изделий микроэлектроники
1.4 Основные положения и принципы микроэлектроники
2. Основные направления развития электроники
2.1 Перспективы развития микроэлектроники
2.2 Новая быстро развивающаяся технология
Заключение
Список литературы
Список литературы
1. International Technology Roadmap Semiconductors, 2005 EDITION, www.itrs.net/LINKS/2011ITRS/.
2. International Technology Roadmap Semiconductors, Street NW Suite 450, Washington, https://www.semiconductors.org/resources
3. А.Хохлун. Некоторые тенденции развития мировой электроники перспективы для российской промышленности
4. Макушин М. Мировая микроэлектроника: чем меньше размеры, тем крупнее игроки // Электроника: Наука, Технология, Бизнес. 2007. № 6. С. 104-112.
5. Нанотехнологии в электронике / Под редакцией Чаплыгина Ю.А. М.: Техносфера, 2005.
6. Данилина Т.И., Кагадей В.А., Анищенко Е.В. Технология кремниевой наноэлектроники: Учебное пособие. –Томск:В-Спектр, 2011. –263с
Дефект подложки может привести к нарушениям технологического процесса изготовления микросхемы и соответственно к браку. Единственным способом решения этой проблемы является совершенствование технологии изготовления подложек.
Последней в списке, но, пожалуй, первой по значимости следует назвать проблему контроля параметров. Общеизвестно, что электроника проникла буквально во все области человеческой деятельности. Автоматические системы сегодня управляют сложнейшими (и порой потенциально опасными) технологическими процессами, огромными транспортными потоками и т.д. Сбой в такой системе может привести к катастрофическим последствиям. В этих условиях проблемы надежности и качества оборудо