Прямая задача спектрофотометрии растущего слоя
ВВЕДЕНИЕ
В настоящее время интерференционные покрытия востребованы в разных областях науки и техники. Технология создания многослойных интерференционных покрытий является важной областью оптики, используемой в различных сферах, включая оптические волокна, лазеры, солнечные батареи и микроскопы. Для того чтобы их реализовать необходимы прозрачные пленки, с разными коэффициентами преломления. Коэффициент поглощения должен быть минимальный в данной спектральной области. При синтезе покрытий также необходимо учитывать дисперсию показателей преломления и поглощения веществ который образуют плёнку [25].
Однако существующие на данный момент справочные данные по оптическим константам отличаются от оптических свойств получаемых тонких плёнок.
ОГЛАВЛЕНИЕ
РЕФЕРАТ 5
ВВЕДЕНИЕ 6
ГЛАВА 1. ПРИМЕНЕНИЕ И МЕТОДЫ ФОРМИРОВАНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОКРЫТИЙ. 8
1.1 Применение интерференционных покрытий 8
1.2 Методы формирования интерференционных покрытий 12
ГЛАВА 2. ФОРМУЛИРОВКА ПРОБЛЕМЫ СПЕКТРОФОТОМЕТРИИ РАСТУЩЕГО СЛОЯ В ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОМ ПОКРЫТИИ 22
ГЛАВА 3. СПЕКТРЫ АНТИБЛИКОВОГО ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ПОКРЫТИЯ 25
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 32
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ 33
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
1. Сотский, А. Б. Соотношения взаимности для слоистых сред / А. Б. Сотский, Е. А. Чудаков // Вестник МГУ им. А.А. Кулешова. – 2023 №1(61). С. 40 – 49.
2. Сотский, А. Б. Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках / А. Б. Сотский, С. С. Михеев, Н. И. Стаськов, Л. И. Сотская // Оптика и спектроскопия. – 2020. – Т.128, №8. – С. 1133 – 1143.
3. Цепулин, В. Г. Измерение распределения толщин многослойных пленочных структур методами спектральной рефлектометрии / В. Г. Цепулин, В. Л. Толстогузов, В. Е, Карасик, А. В. Перчик, А. П. Арефьев // Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Приборостроение. – 2016. – № 3. – C. 3 – 12.
4. Стаськов, Н. И. Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии / Н. И. Стаськов, И. В. Ивашкевич, А. Б. Сотский, Л. И. Сотская // ПФМТ. – 2012. – Вып. 1, № 10 – С. 26 – 30.
5. Jian Wang. Polarized angle-resolved spectral reflectometry for real-time ultra-thin film measurement / Wang Jian, Peng Lihua, Zhai Fugi, Tang Dawai, Gao Feng, Zhang Xiangchao, Chen Rong, Zhou Liping, Jiang Jane Xiangqian // Optics Express. – 2023. – Vol. 31. № 4. – P. 6552 – 6565
6. Посмитная, Я.С. Спектрофотометрический контроль соединения оптических прозрачных материалов и тонких слоев / Я. С. Посмитная, А. А. Евстрапов // НП. – 2014. – Т. 24, №1. – С. 152 – 156.
7. Немкова, А.А. Разработка технологии интерференционных зеркал с высоким коэффициентом отражения адаптивной оптики / А. А. Немкова, Н. Н. Карасев // Научно – технический вестник информационных технологий, механики и оптики. – 2006. – № 34. – С. 246 – 250.
8. De Groot, P.J. Interference miscrosope objectives for wide-field areal surface topography measurements / P. J. De Groot, J. F. Biegen // Optical Engineering. – 2016. Vol. 55. № 7. – P. 074110
Одним из самых распространенных методов наплавки является электродуговая наплавка. Это метод наплавки, при котором металлический материал расплавляется с помощью электрической дуги и наносится на поверхность основного материала. Для электродуговой наплавки толстых металлических поверхностей необходимо выбирать соответствующие покрытые электроды, диаметр которых зависит от толщины материала. Например, при наплавке на поверхность толщиной 1,5 мм подойдет стержень диаметром 3 мм, а для более толстых поверхностей следует использовать электроды с более крупным диаметром – от 4 до 6 мм. Правильный выбор электрода позволит провести процесс наплавки без перегрева материала и обеспечить высокое качество наплавленного покрытия. Сам процесс электродуговой наплавки состоит из нескольких этапов. Перед началом работы необходимо очистить поверхность от грязи, жира и ржавчины, чтобы обеспечить хорошую адгезию металла при наплавке.