Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия поверхности поликристаллического алюминия
ВВЕДЕНИЕ
Важной задачей при исследовании свойств современных материалов является исследование поверхности. Поверхность играет важную роль при создании материалов, обладающих уникальными электрическими, термическими, каталитическими, магнитными и многими другими свойствами. Методы электронной спектроскопии являются одними из основных методов исследования физических свойств поверхности, которые позволяют исследовать электронные свойства поверхностей твердых тел и сформированных на них низкоразмерных систем.
Атомная структура поверхности и ее преобразование в ходе процессов, происходящих на поверхности, занимают важное место в современной физике конденсированного состояния вещества. Эта информация важна для понимания фундаментальных свойств поверхности, изучения адсорбции газов, создания тонких пленок и гетероструктур, изучения свойств наноматериалов и т. д.
СОДЕРЖАНИЕ:
ВВЕДЕНИЕ……………………………………………………………………..
ГЛАВА 1. ОСНОВНЫЕ ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ РЕНТГЕНОЭЛЕКТРОННЫХ СПЕКТРОВ…………………………….….
Спектроскопия рентгеновских лучей…………………………
Методы рентгеновской спектроскопии……………………………...
Фотоэлектронная и Оже - спектроскопия………………………..….
Фотоэффект и рентгеновское излучение…………………………….
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)……..….
ГЛАВА 2. ПРИМЕНЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ПРИ ИССЛЕДОВАНИИ ПОВЕРХНОСТИ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО АЛЮМИНИЯ………………………….
2.1 Исследование поверхности сплава алюминия + меди методом РФЭС…….
2.2 Исследование поверхности сплава алюминия + железа методом РФЭС……………………………………………………………..……………
2.3 Результаты исследований поликристаллического алюминия совместно с другими сплавами
2.4. Результаты исследований поликристаллического алюминия …….
2.5. Взаимодействия поверхности алюминия и РЗМ с воздухом и водой……………………………………………………………………………….
ЗАКЛЮЧЕНИЕ……………………………………………………………….
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ………………………..
Литература:
1. Ульянов П. Г. Рыбкин А. Г. Фотоэлектронная и Оже – электронная спектроскопия для исследования поверхности.//Ресурсный центр «Физические методы исследования поверхности». Санк-Петербург. – 1с.
2. Огородников И. И. Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и голография поверхностей слоистых кристаллов халькогенидов титана и висмута. Автореферат на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Екатеринбург. – 2015 г. 3 с.
3. Боронин А. И. Фотоэлектронная спектроскопия в исследовании катализа на металлах. // Диссертация и автореферат по ВАК доктора химических наук – 2002г. 3 с.
4. Осьмушко И. С. Физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: // учебное пособие И.С. Осьмушко, В. В. Короченцев, В. В. Вовна; Владивосток. 2013.
5. Федосеев В. Б. Физика: учебник // Ростов – на – Дону; Феникс, 2009. – 595 с.
6. Штольц А. К., Денисова О. В., Чукин А. В. Рентгеновские спектры: методическое пособие // Екатеринбург , 2010 - 3 с.
7. Яворский Б. М., Селезнев Ю. А. Физика. Справочное пособие.// Москва; 2000 – 396 с.
8. E. N. Ramsden A – LEVEL CHEMISTRY
9. В. А. Буртелов, А. В. Кудряшов, Е. П. Шешин, Худа Халид Хамид Маджма Физика. Труды МФТИ. // Том 11, №2. Москва – 2019, 118 с.
10. …….
11. А. С. Лелюхин, Свойства рентгеновского излучения и способы его возбуждения. // Оренбург, 2007 – 12 с.
12. Черноруков Н. Г., Нипрук О. В. Теория и практика Рентгенофлуоресцентного анализа.// Учебно-методическое пособие. Нижний Новгород, 2012 – 6,7 с.
Поэтому, как и электронная оже-спектроскопия (ЭОС), метод РФЭС является поверхностно-чувствительным методом и также требует условий сверхвысокого вакуума и начальной очистки поверхности образца от загрязнений перед загрузкой. Фотоэлектронные линии имеют тонкую структуру, но в отличие от оже-пиков она почти полностью определяется химическими сдвигами, если только не накладываются друг на друга отчётливые фотоэлектронная пики. Это важное преимущество метода, позволяющее диагностировать различные химические соединения в исследуемых образцах и проводить их количественную оценку, в связи с чем метод получил ещё одно название: ЭСХА (ESCA) – электронная спектроскопия для химического анализа.